根据该理解备忘录，SEMI和IEEE将确定有关联络事宜，说明定期的信息交流计划并安排定期召开联合会议。备忘录中还提供各自委员会会议的最新资料并发布关于纳米技术和微电子机械系统标准信息。
IEEE标准协会正在积极推进其纳米技术标准，并预计在2005年出台碳纳米管的测量标准。同样，SEMI的MEMS动议也显示了对这一标准的关注。
“该备忘录将对纳米技术、MEMS和其他涉及电子装置性能的新兴领域内的标准系列发展起巨大的推动作用，”IEEE标准协会的执行董事Judith Gorman指出，“未来的热点领域可能包括有机物、分子、碳纳米管及硅纳米基装置。这份刚签署的备忘录只是我们双方长期协作的第一步，在此过程中，双方将互通有无，共享专知，必能互惠互利，造福整个行业。”
“纳米技术发展引起广泛关注的今天，这份协议的制定可谓适逢其时。”SEMI的国际标准和MEMS总监Bettina Weiss说，“我们希望通过在开发周期的早期启动标准制定工作，加速商业化，降低成本，提高生产率，从而推进整个行业的发展。SEMI所制定的标准将广泛见于材料、工具和接口等领域，而IEEE标准则主要涉及测试方法、材料、装置、可互操作性和其它议题。”
SEMI标准项目包括半导体工艺设备和材料制造的各个方面，从晶片制造、测试、组装及包装到平面显示器和MEMS的制造。SEMI在各大市场的高新技术生产领域均占有一席之地，尤其纳米技术的重要应用领域——半导体领域。
IEEE除了在碳纳米结构标准方面的工作外（即IEEE P1650，“有关碳纳米管电子性能测量的标准测试方法”），最近又完成了IEEE 1620?“有机晶体管和材料特征性的测试方法标准”该标准还为评估有机场效应晶体管（OFET）提供了统一的框架，以用作大批量生产的平台。IEEE正将其有机场效应晶体管项目向设备标准拓展。