>
首页 » 市场趋势 » NI隔离式DIO/TIO卡荣获ECN年度技术成果大奖

NI隔离式DIO/TIO卡荣获ECN年度技术成果大奖

作者:电子设计应用  时间:2005-01-07 14:43  来源:本站原创

在美国ECN杂志一年一度的技术成果大奖评选中,NI公司于2004年第一季度推出的3款隔离式DIO/TIO卡金榜题名,位列板卡和模块产品类(Boards and Modules category of the ECN Technology Awards)首位。获奖的这3款产品包括NI PCI-6528 、 NI CompactPCI/PXI-6528数字I/O,以及NI PCI-6624计数/定时卡,可以为汽车、航空、工业监控等领域的应用提供一系列高级、可靠的工业特性。

对于NI中国分公司而言,获得这一奖项的意义非同寻常,因为目前隔离式DIO/TIO硬件产品完全由NI中国本土的工程师们设计,其“含金量”非常高。NI中国研发中心成立于1998年,负责DSP和驱动程序等软件项目,硬件研发部自2001年组建以来,已独立研发了基金会现场总线接口设备、光电隔离工业数字I/O板卡系列及光电隔离计数器/定时器板卡等产品。NI中国研发部经理郭文哲先生表示:“一直以来NI十分重视中国研发中心的运作和发展,并投入了相当的资金和人力,这不但是NI自身的战略需要,对于中国地区的广大用户而言也是一个巨大的资源。这一次ECN大奖就充分证明了本地工程师的能力。”

在2004年度,NI公司开发了多款具有革新意义的数据采集硬件,获奖的3个产品只是其中具有代表性的一部分。2004年8月,NI在年度虚拟仪器盛会NIWeek上隆重推出了新一代M系列数据采集产品,为该领域设定了一个全新的标准。同时NI将一如既往拓展这一产品线,为行业用户带来更多更尖端的技术。

相关推荐

NI拜访国家能源智能电网(上海)研发中心

NI  智能电网  2012-05-28

NI 发布《2012年自动化测试趋势展望》

NI  自动化测试  2012-05-15

美国国家仪器加入TD技术论坛

NI  TD-LTE  2012-05-07

LabVIEW天下会广召天下英雄

NI  LabVIEW  2012-04-16

NI携手FIRST共同推出第二届FTC科技挑战赛

NI  FTC  LabVIEW  2012-03-14

NI全方位助力哈尔滨工业大学教学和创新实践

NI  虚拟仪器  CompactRIO  PXI  2011-12-12
在线研讨会
焦点