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NI推出PXI-5922可变分辨率数字化仪

作者:电子设计应用  时间:2005-03-24 09:25  来源:本站原创

设计和测试工程师可以使用单个模块化仪器——NI(美国国家仪器有限公司,National Instruments)的可变分辨率数字化仪,实现多种动态测试功能。正如数字万用表将通用的测量功能引入DC测量一样,全新的PXI-5922可变分辨率数字化仪对使用通用测量仪器进行动态测量的方式进行了革新。通过将该模块与LabVIEW 7.1结合使用,您可以自己创建各种不同类型的仪器,例如AC电压表、音频分析仪、频率计数器、频谱分析仪和I/Q调制分析仪,而且这些自制仪器与传统高端仪器相比功能相似,测量性能却更高。

“虚拟仪器技术重新定义了测试测量系统的构建方式,”NI总裁兼CEO James Truchard博士表示:“通过为工程师们提供适用于多种领域的设备,NI PXI-5922 可变分辨率数字化仪重新定义了虚拟仪器技术中硬件部分的构建方式。对于一系列需要使用到数字化仪的应用系统,该模块确保了测试的零失误率,并带领我们向通用仪器测量平台的目标又迈进了一大步。”

有别于传统测量设备对所有采样速率只有一种固定分辨率的情况,NI PXI-5922数字化仪使用NI FlexII ADC,具备了可变的分辨率,并能在15 MS/s 16位到500 kS/s 24位的范围内进行采样。NI FlexII ADC结合了NI专利的技术,减少了多位sigma-delta转换器中的线性和温度漂移失误,以便在高采样率的状况下达到前所未有的动态范围。得益于该模块的动态范围和低噪音优势,设计和测试工程师们可以直接数字化低水平信号,而无需用到外部信号调理(例如滤波器和低噪音放大器等)。简化的信号调理功能改进了测量精确度和可靠性,同时也节省了宝贵的开发测试系统的时间。

测量灵活性和极大的动态范围相结合使得NI PXI-5922模块成为一系列应用的理想之选。由于其性能已经超越了市场上最好的商用ADC,所以工程师们可以使用这一模块测试最新的DAC。对于精密音频应用,这一款数字化仪可在高达500 kS/s速率、24位分辨率情况下采集信号,这一强大的功能意味着工程师们可以在动态信号范围内获取高阶和声。这一模块在10 MS/s速率下的18位分辨率使之成为数字通信系统中,采集基带I/Q信号最理想的数字化仪。

NI PXI-5922模块基于同步和存储核心(Synchronization and Memory Core,SMC)构架,与其他基于SMC的产品(例如高速数字化仪、任意波形发生器和数字波形发生器/分析仪等)实现紧密的同步。该模块可完成多仪器同步功能,而模块间的信号偏斜则小于1 ns;强大的、可变的板载内存高达每通道256 MB;并支持高速数据流盘。工程师们可以使用该模块创建混合信号激励响应测量系统,或者通过同步多个NI PXI-5922模块把采集通道扩容至1,632个。

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