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手机翻盖耐久性测试系统

作者:  时间:2007-05-15 22:25  来源:www.edires.net
手机翻盖耐久性测试即将待测翻盖手机重复开合预设的次数,然后观察手机的各部分性能是否完好,这在翻盖手机的生产过程中是相当重要的一环。以往采用气动方式的系统运行速度较慢(约为每2秒1次)且操作界面不够友好。基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统采用NI Motion 控制模块控制伺服电机进行驱动,运行速度可达到原来的4倍多且同时可对4部手机进行测试,而采用National Instruments公司的虚拟仪器(LabVIEW)进行开发,使操作界面非常友好。本系统利用NI Motion 控制模块对伺服电机运动进行速度控制,按照用户设置的参数驱动相应的拨片、拨杆控制手机翻盖的开合。整个系统框图如下图所示:

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