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高频锁相环的可测性设计

作者:  时间:2008-07-14 14:08  来源:52RD硬件研发

      可测性设计(Design for Test,DFT)最早用于数字电路设计。随着模拟电路的发展和芯片 集成度的提高,单芯片数模混合系统应运而生,混合电路测试,尤其是混合电路中模拟电路的测试,引起了设计者的广泛关注。边界扫描是数字电路可测性设计中常用的技术,基于IE EE1149

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