芯片设计软件供应商微捷码（Magma®）设计自动化公司（纳斯达克交易代码：LAVA）今天宣布，已极大地增强了业界标准CAD导航系统Knights CamelotTM的功能。其中，一款新的选配软件使Knights Camelot成为第一个能让失效分析工程师在制造过程中实施设计规则检查（DRC）的CAD导航工具。新的Knights Camelot选配软件加强了设计与制造过程的联系，并极大地缩短了大批量生产先进集成电路的时间，同时降低了制造成本。
微捷码公司制造分析业务部副总裁Ankush Oberal表示：“Knights Camelot功能增强并增加多款新的选配软件后，将使半导体芯片从概念到产品所需时间大大缩短，这是我们在过去一年半中高强度研发工作的直接成果。原Knights科技公司在近20年时间里一直提供业界领先的失效分析、CAD导航和生产管理工具。微捷码与Knights公司合并使集成电路生产与制造分析得以紧密集成，实现了真正的可制造性设计。”
新的“在线搜索分析器（On-Line Search Analyzer）”选配软件加速并简化了失效分析搜索功能。例如，传统上，搜索可用聚焦离子束（FIB）修改的区域是手工进行的，现在，通过自动化搜索，该软件加速并简化了聚焦离子束修改工作。在这种情况下，在线搜索分析器对版图文件进行3维搜索，以找到合适的区域，让聚焦离子束系统能够既通过电路系统将离子束射到感兴趣的点，又不与底层几何结构交叉或影响到这些结构。这个新的选配软件集成了多种微捷码设计规则检查（DRC）功能，使Knights Camelot成为第一个和惟一一个能让失效分析工程师在制造过程中利用设计规则检查（DRC）功能的CAD导航工具。有了这些新功能，用户就可以针对各种失效分析和器件调试方法定义应用。这种灵活性使用户能够缩短器件调试和修补漏洞的时间，并减少废品。
新的“热点分析器（Hot-Spot Analyzer）”选配软件分析版图中的多个区域，找到与这些区域靠近或交叉的那些部分的连线表。一般情况下，这些区域界定光子发射（发射点）范围，然后显示每个热点区域中的连线和每根连线网的热点数量。 这一功能缩短了与发光显微镜（EMMI）工具诊断处理时间。
新的“实时图像重叠（Live Image Overlay）”选配软件极大地提高了制造工具平台系统的准确度，使平台系统与版图协调一致。很多高放大率检查、分析、探测和扫描电子显微镜（SEM）工具可能存在平台不准确性，为了解决这个问题，实时图像重叠选配软件抓取接受检查的器件的图像，并将图像重叠到设计版图上。然后，利用先进的映射技术，确定图像和版图的关键共有特征，再使这些特征协调一致。图像与版图的协调一致可以校正任何平台的不准确性，使工具能够准确地利用设计版图进行精确的调整。
Oberai说：“这种整合给企业带来了多种切实帮助。原来由于无法工作而不得不丢弃的芯片现在也能修复并出售，因此降低了生产损耗，避免了销售收入损失。在设计与失效分析之间建立关联意味着，设计师可以将更多的时间用在设计工作上，而用较少的时间来核实设计的可制造性。工作任务周转期缩短则意味着，产品可以更快上市，这是所有优势中最重要的。”