GE推出新型的x|act 检测软件，以配合phoenix microme|x and nanome|x 180伏高分辨率X射线检测系统。该软件可应用于电子部件的手工检测，以及电子封装中焊点的全自动、基于CAD的X射线检测。x|act 检测软件操作简易、可靠性更高，为制造提供实时的图像信息，确保了缺陷检测的高精确度。