首页 » 业界动态 » Multitest的Dura Kelvin显著降低总测试成本

Multitest的Dura Kelvin显著降低总测试成本

作者:  时间:2011-07-06 19:41  来源:电子产品世界

  面向世界各地的集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前欣然宣布其Dura®Kelvin测试座再次证明在超长的使用寿命和清洗周期方面名不虚传。在一家国际性IDM大批量生产厂,Dura®Kelvin测试座显著降低了总体测试成本。

  在项目期限内,首检合格率和清洗频率都受到了监控。Dura®Kelvin明显超过了所有目标,使用寿命已超过4百万次插拨,这是设定目标的四倍以上。首检合格率从95%提高到98.5%。真正令人赞叹的是与清洗频率相关的成就。

  Dura®Kelvin 仅需要在大约100个小时之后清洗。与原来的测试单元配置相比,这使与清洗相关的测试单元停机时间降低了90%。尤其对于低温测试而言,这具有重要影响。

相关推荐

Multitest MEMS推出适用于MT9510产品

Multitest  MEMS  2012-01-18

评估证明Multitest的Mercury产品实现最低测试成本

Multitest  BGA  2011-11-10

Multitest交付首款InPhone系统

Multitest  InPhone  2011-09-20

Multitest的MT2168展示卓越的拿放精度

Multitest  MT2168  测试分选机  2011-09-06

Multitest获得多份老化测试板续订订单

Multitest  BIB  2011-08-31

Multitest的Mercury测试座具有高达6%的合格率提升

Multitest  Mercury  测试座  2011-08-23
在线研讨会
焦点