ARM公司近日在美国加州圣克拉拉（Santa Clara）举行的ARM开发者大会上发布了RealView® Profiler，这一独一无二的工具被专门设计用来实现对那些工作量从几分钟、几小时到几天的实际系统进行软件性能和代码覆盖的非侵入分析。通过这个工具，开发者们能将他们的应用程序性能显著提高20%以上，同时将ROM的尺寸减少20%。RealView Profiler同样包括了对statement及分支代码覆盖的综合分析，使得软件测试达到100%的代码覆盖，以保证最高品质的软件验证。

RealView Profiler是对业界领先的ARM编译技术的有力补充，将使基于ARM处理器的设备性能提升到一个新高度。RealView Profiler基于完整的ARM调试及追踪架构，能够提供前所未有的对嵌入式系统软件性能的分析。从设计周期的早期到最后阶段，RealView Profile都能为性能分析提供支持，从而大大降低软件开发项目的风险。为了做到这一点，ARM RealView Profiler通过新型RealView Trace 2捕捉单元支持硬件模拟，还通过超快RealView实时系统模型提供虚拟平台模拟。

ARM系统设计部营销副总裁John Cornish表示：“消费电子市场需要越来越复杂的应用程序以提供丰富的媒体内容，这使得提高嵌入式软件的性能和质量势在必行。RealView Profiler支持对实际系统工作量的软件性能及代码覆盖的非侵入分析，同时它还提供了关键分析和热点信息。这使得开发者能够迅速优化代码的性能和覆盖，使其成为对量产级嵌入式软件进行测试和测量的理想工具。”

WAVECOM SA软件部总监Stéphane Baixas表示：“我们的客户希望尽量利用我们基于ARM的Wireless CPU®产品，并且希望获得最佳的实时响应及很高的计算性能。RealView Profiler将帮助我们找出代码中的瓶颈，从而改善我们的Open AT® 操作系统的性能。另外，因为有了代码覆盖功能，我们能够拓展我们的测试能力，确保我们的解决方案的质量及可靠性。”

RealView Profiler可作为业界领先的Eclipse ™集成开发环境的插件，并且在该环境下提供通过以相似的外观和感觉来简化使用的图形用户界面。这极大地提高了通常具有挑战性的优化阶段的生产力。