| |
| NI将联合业内公司举办第三届“设计、验证及测试论坛” |
| 作者： 时间：2006-09-02 来源:NI公司 |
| |
继2004和2005年连续在中国地区成功举办两届“设计、验证及测试论坛”（Design Validation Test Forum，即DVTF）之后，美国国家仪器中国有限公司宣布即将于今年9月21日在北京天鸿科园大酒店主办第三届DVTF活动。除了两年来王牌的自动化测试主题，嵌入式系统设计也将成为今年的亮点。
延承以往的传统，DVTF 2006联合了泰克科技、EWB（Electronics WorkBench）、声望声电，以及北京中科泛华、上海聚星仪器等行业知名公司共同参与，力求将DVTF打造成一个测试测量自动化以及设计行业权威的品牌活动，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的平台，不但可以与行业专家面对面地交流，了解最新的技术趋势，而且还可以同时观摩多家参与企业的演示从而获得最佳的解决方案。
全天的活动将分为嵌入式系统设计和测试专题与自动化测试专题两个板块同时进行。嵌入式系统设计和测试专题包括：“如何缩短嵌入式系统的设计周期”，“无需掌握VHDL，体验图形化的FPGA编程 ”，“电路设计与仿真最新技术介绍”等；自动化测试专题包括：“最新PCI Express和测试测量总线技术”，“射频领域和多种行业领域内NI的解决方案”，“支持多种传感器信号的便携式数据采集系统”等。所有议程主题均是充分考虑到设计和测试两个领域工程师的实际需求和未来挑战而准备的。
除了两项专题之外，本次DVTF还特设“测试经理高峰论坛”专场，邀请各领域公司的高级测试经理参与交流讨论，共同应对和解决市场快速发展下产生的各种挑战。
|
|
|
|
|
