企业 个人 用户名 密码   忘记密码?
站内 站外
风格设定:
论坛 博客 会展
论坛 博客 会展
 
Altera Nios II嵌入式评估套件荣获技术选择奖
作者:    时间:2008-06-02    来源: 
 
       Altera公司(NASDAQ: ALTR)今天宣布,Cyclone III版Nios® II嵌入式评估套件获得两项2008年度技术选择奖——eg3.com的FPGA和工具类编辑选择奖和读者选择奖。
 技术选择奖授予创新技术以及通过实践努力帮助工程师应用这些新技术的公司。技术选择奖涉及到关键技术领域,包括虚拟化技术、嵌入式处理器、嵌入式工具、FPGA和工具、无线和MicroTCA等。

 Nios II嵌入式评估套件是功能丰富的低成本平台,以快速简单的“动手实践”方式帮助嵌入式设计人员使用Nios II处理器和Altera SOPC Builder系统设计软件。通过简单的按动,开发人员还可以利用该评估套件来启动实例程序,包括网络、硬件加速和图像处理等。对于刚接触FPGA处理器的软件设计人员,它还是理想的开发平台。
eg3.com资深编辑Jason McDonald评论说:“对比了众多的公司及其产品后,很显然,Altera的Nios II嵌入式评估套件最终胜出,它是具有交互式功能独具特色的创新技术最好的例子。Nios II嵌入式评估套件在FPGA设计上有独到的优势,毫无疑问地获得了编辑选择奖,以及读者认可的读者选择奖。”
 Altera软件、嵌入式和DSP市场总监Chris Balough表示:“我们很荣幸获得这一奖项,得到大家的认可。Nios II嵌入式评估套件自发布以来,得到了客户热烈的响应。Altera以及我们合作伙伴提供的丰富的应用软件和触摸屏接口,展示了Nios II处理器强大的功能,使设计人员能够迅速在自己的系统中应用这些设计。”
 敬请访问www.altera.com/nios2eval, 了解Cyclone III版Nios II嵌入式评估套件的详细信息。
标签:  评估套件  Altera


  发表评论

昵称: 验证码:
内容:
 
相关新闻
 · 英飞凌超低成本评估套件助力8位微控制器
 · 卓联半导体公司推出简化免提语音通信系统
 · Altera Nios II嵌入式评估
最新资讯
 · R&S EMC测试方案与系统兼容标准,
 · 罗德与施瓦茨公司庆祝成立75周年
 · R&S力推CMMB数字多媒体广播与测试
 · 罗德与施瓦茨—测试与测量领航者
 · 安森美半导体任命林剑铭为大中华区销售副
 · ST芯片启动中国最大的家庭民生计量项目
 · LinkSwitch®-II设计手机充
 · 第三届中国移动互联网大会12月9日在京
 
  站内 站外
  Copyright(C)2008 Electronic Design & Application World All rights reserved.  《电子设计应用》杂志社 版权所有
联系电话:(86)10-66421136 66421836 66423836   传真:(86)10-66423936   京ICP备05012822号