近年来，各种新技术和新应用的出现极大推动了测试测量行业的发展。例如，随着SDRAM标准已经从DDR－266发展到现在的DDR3－1333，并且还在向着低电压、更高频率的DDR4发展；随着TD－SCDMA开始试商用和WiMAX的发展，通讯测试市场成为测试测量技术的发展提供了强劲动力。据分析公司预测，2006年到2010年测试测量市场的复合年增长率为6.9%。其中，分析仪器、制造测试和自动测试设备的市场规模最大，分别占到整个测试测量市场的41.0%和25.0%。通讯测试尤其是无线通讯测试行业在测试测量市场增长最快，在2007-2010期间复合年增长率达12.5%。

市场潜力无限的同时，测试测量技术也面临着日益苛刻得需求和挑战。目前测试测量技术已从传统的主要服务于专业化实验室科研，开始向网络化、现场测试应用、低成本批量制造和非专业人员使用等方面发展。同时，更高带宽、更快速度、更加精密，以及更低成本等需求成为测试测量设备与技术提供商面临的重大挑战，并推动测试测量厂商推出针对这些应用需求的测试技术与解决方案。

本期测试测量专题将以增刊形式，向业界广大工程师和科研人员展现当前测试测量市场的先进测试技术和测试方案，以及应对现代测试测量挑战的技术与产品策略，同时，该增刊还将关注未来测试技术发展动向与应用热点。为此，我们诚邀业界所有从事测试测量的工程师及专家加入此次专题，提供技术文章、应用解决方案以及对市场趋势的看法、观点。分享心得、交流经验！
期待并感谢您的参加与支持！

文章要求：
1. 文章针对测试测量领域的某一技术点或应用。
2. 指出文章要解决的问题。
3. 提供解决问题所进行的技术分析以及必要的图片。
4. 提供解决方案或者建议方案或您的观点。
5. 可以以本公司产品或方案举例，但请勿带有明显的广告宣传色彩。
6. 字数控制在5000字以内。
7. 图片分辨率不小于300dpi。
8. 截稿日期：2008年8月5日以前。

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