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新一代组合仪表的自动测试系统发展方向

作者:  时间:2009-09-10 10:33  来源:
摘要: 本文综合分析了电子测量仪器的总体发展趋势, 特别是由于测试技术的突破带来的电子测量仪器的革命性变化. 同时,针对业界自动测试系统的发展历史和现状提出了作者的一些看法, 并介绍了业界的最新进展和最新标准, 为关心测试技术和自动测试系统的业内人士提供了参考。 

关键词: LXI; ATE; 自动测试系统;电子测量仪器; 

1  前言 

   在科技日新月异的今天,新的测试技术及新的电子元器件设计和制造技术不断推动着电子测量仪器设计水平向前发展。 

   进入21世纪,电子测量仪器的总体发展出现了新的趋势,概括起来有三方面特点: 

2  仪器的性能更加优异 

    仪器的性能更加优异,测量功能更加强大,仪器的测量精度,测试灵敏度,测量的动态范围等都达到了前所未有的高度。例如,Agilent公司的PSA频谱分析仪的测量灵敏度高达-169dBm(接近物理界热噪声-174dBm),PNA网络分析仪的动态范围高达143dB, Agilent 83453A 高分辨率分光计分辨带宽=0.0001nm(亚皮米)(突破皮米分辨带宽的壁垒),Agilent 86107A 精密时基参考模块,对小于100ns的时延,抖动为 1.7ps RMS(突破皮秒抖动瓶颈),DSO80000系列的示波器,其单一A/D芯片具有20GSa/s实时高采样率,使之成为世界上采样率最快的示波器(40GSa/s实时采样率,13GHz带宽)。另外,更多强大的测量功能被赋予单台仪表中,如Agilent公司的8960系列无线综合测试仪(集移动手机和基站的射频测试与协议测试于一身);ESG/PSG矢量信号源可以灵活产生包括连续波/调幅/调频/调相/脉冲调制,全制式通信协议(GSM/EDGE/W-CDMA/TD-SCDMA/CDMAOne /CDMA2000/CDMA2000  1X-EV/蓝牙/WLAN/PHS/PDC/NADC/DECT/TETRA等),任意波形及用于今后的其他信号;MSO混合信号示波器(2/4个模拟测量通道+16个逻辑分析通道)使单台仪器同时具备示波器和逻辑分析仪的功能;Agilent的Infiniium示波器DSO81304A(13G 采样示波器)内装VSA矢量信号分析软件后成为世界上测量分析带宽(13GHz)最宽的矢量信号分析仪;Agilent的16900系列逻辑分析系统内装VSA矢量信号分析软件后也成为世界上功能最为独特的数字基带和数字中频矢量信号分析仪。 

3  仪器与计算机技术的融合 

    仪器和计算机技术的前所未有的融合。首先,越来越多的仪器选用以Windows软件和Intel芯片为平台,采用Windows GUI和基于军用标准的软件,用Windows软件代替仪器内部操作软件,并易于与MS办公室应用软件连接,充分发挥其效能,如Agilent公司的仪器可用Word 语言捕获屏幕图像,用 Excel语言绘制的波形数据,用 Excel语言捕获测量数据,易于自由地从互联网下载和升级最新的软件版本,利用Windows Help提高了仪器操作学习的方便性;同时,触摸屏被广泛利用,话音控制可解决双手同时被占用时操作仪器的问题,通过网络控制仪器操作,并用基于MS Windows 和MS Visual Studio实现测试自动化;另外,仪器内部的VBA软件可有效地帮助实现生产过程中的测试自动化。其次,由于计算机技术被大量应用到仪器之中,使得仪器具备了更加先进的连通性和更为广泛的开放性,如Agilent公司的仪器大都具备采用了USB 接口,LAN接口,GPIB接口。同时,也安装了标准光标指示器(鼠标、跟踪球、触摸键、操纵杆等)和其他部件(键盘、 CD RW 驱动器、直接连结打印机的并行接口,用于外部监视器的VGA输出,内部硬盘驱动器等)。特别值得一提的是,在军工等特殊行业,测试数据的安全性和保密性要求格外重要,为此,Agilent公司在仪器上设计了可卸出的硬盘(如PNA矢量网络分析仪和Infiniium示波器),使工作人员在实验室完成测试任务后,卸出硬盘,单独运输仪器至测试现场(如战地),再由操作人员取出随身携带的硬盘装入仪器,再进行现场测量,从而保证了数据的安全性和保密性;Agilent公司的PSA频谱分析仪和PSG信号发生器都具有特殊的选件,使仪器在正常工作的同时,仪器始终处于“黑屏”状态,从而起到了保密作用。 

4  仪器的硬件、测试软件及仿真软件的结合 

     随着计算机的运算速度和处理数据能力的不断增加,及计算机仿真技术的广泛应用,仪器的硬件和测试软件及仿真软件的结合越来越紧密。首先,硬件的模块化设计,使得通过不同的硬件模块组合配以不同的软件,从而形成不同功能的仪器和不同的测试解决方案,如Agilent公司的DAC-J宽带示波器86100C,通过插入不同的模块并配以不同软件,该仪器可成为抖动分析仪,宽带示波器,数字通信分析仪,时域反射分析仪;此外,VXI结构的测试仪器更加充分地解释了模块化结构仪器的灵活配置和应用。其次,软件无线电的概念已有了全新的解释和现实的应用,Agilent公司的89601A矢量分析软件是实现这一理念的最好例证,它利用计算机强大的数学运算和数据处理能力将大量的数字信号处理功能和数据分析功能充分展现在计算机软件之中,通过与不同的数据采集前端(如Agilent的VXI结构的矢量信号分析仪,频谱分析仪,Infiniium数字示波器,16900逻辑分析系统)相结合,组合出不同功能的矢量信号分析仪。同时,其捕获的信号和数据分析的结果可以作为EDA仿真软件(如Agilent公司的ADS高级设计仿真软件)的数据输入来源,用于驱动ADS高级设计仿真软件进行部件及系统级仿真;并且,ADS高级设计仿真软件的仿真结果可送入Agilent公司的ESG/PSG矢量信号源产生出信号通过VSA矢量信号分析仪的捕获和分析,反过来可进行产品设计与真实产品之间的数据验证,即实现设计、仿真、测量和验证的有机结合。以Agilent ADS高级设计仿真软件为代表的EDA软件,通过与Agilent公司测试仪器(包括:频谱分析仪,网络分析仪,信号源,示波器,逻辑分析仪等)的动态链接,从而实现了测量域与仿真域的有机结合,在设计、仿真和验证之间架起了桥梁,从而加速设计,提高设计质量,完善系统及部件的半实物仿真手段,达到迅速拓展满足需要的测量解决方案的目的。 

5  自动测试系统的发展历史和现状 

    随着测量仪器功能的不断提高和完善,与其相关的自动测试系统(特别是军用ATS测试系统)的组建与发展也经历了从台式仪器ATS系统到卡式仪器ATS系统,从卡式仪器ATS系统到卡式仪器与台式仪器混合的ATS系统的发展过程。到目前为止,VXI结构的仪器(主要对于大通道数的数字信号测量)与GPIB标准的台式仪器(主要对于性能要求严格的射频/微波信号测量)相结合组建ATS测试系统已成为军用ATS测试系统普遍遵从的主流原则和典范。这与以美国为代表的军工用户在90年代提倡的采用COTS(Commercial Off-the-Shelf)流行商用仪器来构建军用ATS测试系统有很大关系,它可以极大地降低整个测试系统的组建、开发、维护、替换和升级的成本。但是,由于军工行业系统研制周期和认证周期相对较长,系统维护和需要支持的周期通常在10年至20年,而民用科技的发展日新月异,流行商用仪器的更新速度越来越快,一些COTS产品在军工行业被大规模全面使用之前就已废型和停产,对于已定型的测试系统的维护和支持成为军工客户面临的最大问题,特别是那些基于特定硬件而开发的测试软件(TPS)的维护、支持和更新更是面临巨大的挑战。这一点在中国的客户群中也遇到了同样的问题。如何实现硬件的可互换性和软件的可互操作性成为保证整个系统生命力和生命周期的关键。与此同时,军用ATS测试系统还要满足其可靠性、机动性和灵活性的要求,并尽可能地降低开发、维护的成本,节省人力资源,改进硬件的现场替换效率和维修中心替换效率,改进武器系统快速应对地区乃至全球支持的战略要求。 

6  下一代测试目标定义新一代自动测试系统的标准 

    随着自动测试技术的发展,特别是未来军用自动化测试设备的发展,军工行业要求进一步降低总体成本,特别是长期的系统维护成本,并希望通用的、可灵活配置的、可扩展的和可升级的测试系统能适用所有维护对象。同时,还要有效地降低军用电子系统的维修时间,快速提升系统性能。 
以美国为首的用户和仪器厂商近一年以来提出了一种新的测试仪器理念和技术以解决COTS仪器带来的问题,并同时满足未来测试系统的发展要求。该技术称之为NxTest,它就是基于LAN的模块化合成仪器(Synthetic Instrument)。 

   安捷伦科技公司和VXI Technology公司于2004年9月为自动测试系统推出基于LAN的下一代模块化平台标准化 -  LXI。LXI (仪器的LAN扩展)不仅提供了机架和堆叠式仪器的嵌入式测量技术和PC标准I/O连接能力,还实现了基于插卡式仪器的系统的模块化特点并减小了体积。对于为航空/国防、汽车、工业、医疗和消费电子市场开发电子产品的研发和制造工程师来说,LXI紧凑灵活的封装、高速输入/输出和可靠的测量功能有效地满足了他们的需求。VXI总线为所有高密度高速度应用提供了理想的标准,LXI则同时融合了VXI和以太网的优势,为用户提供了一个良好的高性能仪器平台,满足VXI通常没有满足的应用需求。LXI基于LAN的结构为例如在航空和国防行业中长寿命仪器的实现奠定了基础。LXI没有带宽、软件或计算机底板结构限制。它可以利用日益提高的以太网吞吐量,为面临下一代自动测试系统挑战的工程师提供理想的解决方案。 
LXI标准将由LXI协会负责管理。LXI协会是一家由主要测试测量公司组成的非营利机构。该集团的目标是开发、支持和推广LXI标准。 

   安捷伦科技公司和VXI Technology公司利用其拥有悠久历史的模块化仪器设计,推出LXI平台,这是测试系统使用的开放式标准仪器发展中必然的可行一步。由于几乎每台电脑中都内置了以太网(LAN),以太网已经成为业界广泛认同的通信接口。互联网硬件价格正不断下降,速度正不断提高,局域网提供了其它点到点接口标准中没有提供的对等通信。测试和测量工程师日益认识到使用高速局域网替代专有测试测量接口(如GPIB)的好处,业内需要更低成本、更高带宽和更快的数据传送速率,这给专有测试测量接口提出了挑战。 
LXI测试测量模块是为用于设计检验或制造测试系统而优化的。连接局域网的能力使得各模块可以装在世界上任何地方,并从世界上任何地方访问模块。与采用昂贵电源、底板、控制器和MXI卡和电缆的模块化组件不同,LXI模块自带处理器、局域网连接、电源和触发输入。LXI模块可以采用全宽或半宽,高度为一个机架单位或两个机架单位,实现了非常简便的混配功能。信号输入和输出位于正面,局域网和输入交流电源则位于每个LXI模块的背面。LXI模块由计算机控制, 不要求传统机架和堆叠式仪器配备的显示器、按钮和拨号装置。LXI模块采用标准网络浏览器诊断问题,使用IVI-COM驱动程序进行通信,简化了系统集成。 

7  LXI仪器的特点 

LXI仪器具备了以下五大特点: 
(1)开放式工业标准:LAN和AC电源是业界最稳定和生命周期最长的开放式工业标准,也由于其开发成本低廉,使得各厂商很容易将现有的仪器产品移植到该LAN-Based 仪器平台上来。 
(2) 向前和向后兼容性:因为LAN-Based模块只占½的标准机柜宽度,体积上比可扩展式(VXI/PXI)仪器更小。同时,升级现有的ATS不需重新配置,并允许扩展为大型卡式仪器(VXI/PXI)系统。 
(3) 成本低廉:在满足军用和民用客户要求的同时,保有现存台式仪器的核心技术和核心硬件,去除了自动测试系统中各仪器中的多余硬件部分(如显示、键盘、微处理器、下变频器、上变频器、数字转换器等),结合最新科技,保证新的基于LXI模块的系统成本低于相应的由台式仪器和VXI/PXI仪器组建的系统。 
(4) 互操作性:作为合成仪器(Synthetic Instruments)模块,只需30~40种左右的通用模块即可解决军用客户的主要测试需求。如此相对较少的模块种类,可以高效且灵活地组合成面向目标服务的各种测试单元,从而彻底降低ATS系统的体积,提高系统的机动性和灵活性。同时,由于LXI仪器的核心硬件技术与台式仪器的核心硬件技术是相同的,所以在研发阶段在台式仪器上使用的测试方法和测试软件同样可以方便地移植到LXI系统中,从而降低了重新编写测试软件和验证系统性能的费用。 
(5) 新技术及时方便的引入:由于这些模块具备完备的I/O定义文档(由军标定义),所以模块和系统的升级仅需核实新技术是否涵盖其替代产品的全部功能。如此看来,合成仪器(Synthetic Systems)将实现下述五大目标:(1)非常长的产品和系统支持周期,应用软件将不再依赖于特定的硬件。(2)很小的系统体积,仪器不包含多余的显示、输入和其它美学设计部分。(3)应用清晰明确,仪器界面一致,升级快捷方便。(4)系统生命周期与产品生命周期保持一致。(5)供应商独立,测量硬件与测量技术没有直接联系。 
(6)IEEE1588 标准解决了LXI仪器的时钟同步、协议标准和信号触发难题:由于LXI仪器没有计算机背板,LAN没有确定的同步时钟,所以必须考虑如何处理LXI仪器在进行测量控制时所遇到的触发、定时和同步难题,因而,必须找到一种可靠的解决方案。安捷伦实验室最近发明了一种方法,可以让不确定的LAN变成确定的,该方法使工程师能使LAN具备带有触发和同步的能力,从而能可靠地控制仪器进行测量。这种新的方法已经被接纳为IEEE的标准——IEEE1588。 

8 结束语 

    综上所述,21世纪的电子测量仪器随着芯片技术和DSP技术的发展将达到前所未有的高性能,随着计算机技术与仪器的进一步融合, 仪器的易操作性,易升级性,测量能力,数据处理和分析能力,都得到了大幅度提高,与此同时,软件无线电正越来越多地被应用到各个领域, 仿真技术将为用户的设计和验证提供了更加强大和方便的工具.自动测试系统经历了从GPIB系统到VXI系统,从VXI系统到VXI与GPIB混合系统的发展历程, 越来越多的军工用户希望拥有一种长寿命且高性能的系统标准体系来承担日益复杂的测试压力和维护成本的压力,面对未来的挑战,LXI仪器将在继承现有测试技术的基础之上,为下一代测试技术和测试仪器,特别是ATS测试系统的革新带来新的希望。 

参考文献 
[1]IEEE AUTOTESTCON’2000 会议文献. 
[2]IEEE AUTOTESTCON’2001 会议文献. 
[3]IEEE AUTOTESTCON’2002 会议文献. 
[4]IEEE AUTOTESTCON’2003 会议文献. 
[5]IEEE AUTOTESTCON’2004 会议文献. 
[6]Agilent Technologies Test & Measurement Catalog 2004/2004. 
[7]The Application of IEEE 1588 to Test and Measurement Systems, John C. Eidson, 
Agilent Technologies Inc.

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