可测性设计

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　　1.引言　　在工业现场、国防军事、航空航天等领域需要利用电路自身资源进行快速的故障诊断，即要求电路具有自测试功能。为了使复杂的电路具有自测试功能必须进行...

自测试可测性设计多信号模型 2010-11-23

1 引言　　FPGA的出现大大缩短了集成电路设计的周期，使产品上市的时间大大缩短，并减少了设计成本。FPGA的应用越来越广泛，并且其市场份额也越来越大。但是...

SRAM FPGA 连线资源可测性设计 2009-04-27

SRAM FPGA 连线资源可测性设计 2009-04-23

　　1 引言　　FPGA的出现大大缩短了集成电路设计的周期，使产品上市的时间大大缩短，并减少了设计成本。FPGA的应用越来越广泛，并且其市场份额也越来越大。...

FPGA 连线可测性设计 2009-04-02

摘要：DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制，有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难。文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法，在芯片内部设计时...

电源管理 DC-DC 可测性设计 2007-04-23

摘要：本文在8位 RISC MCU设计实例中用Synopsys公司的DFT Compiler进行全扫描设计，在此基础上，总结出了在复杂...

|可测性设计；全扫描；MCU| 2007-04-18

摘要:本文介绍了一种基于蓝牙射频电路可测性设计的8位逐次逼近型ADC.该电路的核心由采用rail-to-rail输入的比较器和R-2R网络结构的DAC组成.针对...

可测性设计轨-对-轨 R-2R 网络 2006-11-24

摘要：本文利用Altera公司的FPGA和EDA工具MAX+plusⅡ和实现了基本的边界扫描结构电路，利用此设计可以满足数...

|边界扫描|现场可编程门阵列|可测性设计| 2005-08-19

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