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半导体C-V测量基础
C-V测量为人们提供了有关器件和材料特征的大量信息 通用测试 电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外...
C-V测量
MOSCAP
MOSFET
吉时利
2009-07-29
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