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基于边界扫描的电路板快速测试系统设计

　　摘要：本文设计了一套基于边界扫描的电路板快速测试系统,该系统利用计算机并行端口,通过适配器发送、接收测试向量,然后对采集数据进行分析,显示测试结果。本文主要...

电路板 JTAG 2011-06-03

如何由单片机升级到DSP

　　在过去的几十年里，单片机的广泛应用实现了简单的智能控制功能。随着信息化的进程和计算机科学与技术、信号处理理论与方法等的迅速发展，需要处理的数据量越来越大，对...

单片机 DSP JTAG 2010-07-05

基于JTAG接口实现ARM的FPGA在线配置

引言　　随着通信技术的发展，出现越来越多的无线接人技术，为了解决不同标准间的互通和兼容，人们提出了软件无线电(Software Defined Radio...

JTAG ARM FPGA 2009-03-02

JTAG控制电路的应用与研究

所有逻辑器件的厂商生产的器件都支持JTAG加载电路，它是一种通用的加载电路。几乎所有的逻辑工程师或硬件开发工程师都曾被这种简单的JTAG控制电路困惑过。本人通过...

JTAG 控制电路 2009-02-23

32位ARM嵌入式处理器的调试技术

　摘要：针对32位ARM处理器开发过程中调试技术的研究，分析了目前比较流行的基于JTAG的实时调试技术，介绍了正在发展的嵌入式调试标准...

嵌入式调试处理器 JTAG Nexus ARM 2008-08-22

集成电路可测性设计中网表的解析与实现

1.前言随着微电子制造技术向深亚微米方向发展，数字集成电路的集成度也越来越高，而半导体工艺中可能引入各种失效，另外材料的缺陷以及工艺的偏差都可能会导致芯片中电路...

集成电路芯片 JTAG 2008-01-10

华邦电子发布工业控制用8位控制器Rich系列

华邦电子推出新款8位控制器Rich系列：W79E217/W79E227/W79E225。Rich系列采用4个频率执行一条指令周期的华邦8051核心为基础，内建6...

华邦电子 JTAG 仿真器 2008-01-03

多核调试新方法探讨

对于嵌入式装置而言，多核技术可以提供更高的处理器性能、更有效的电源利用率，并且占用更少的物理空间，因而具有许多优势。要想充分发挥多核以及多处理解决方案的潜能，...

多核内存 JTAG 2007-12-30

在Bootloader中实现嵌入式系统自动升级

嵌入式系统由硬件和软件两部分组成，软件部分主要包括Bootloader、内核和文件系统。Bootloader是硬件系统加电所运行的第l段软件代码，但在嵌入式系统...

Bootloader 嵌入式 JTAG 2007-11-06

选择合适的嵌入式系统软、硬件调试工具

嵌入式系统设计人员正同时面临着调试工具的渐变和剧变。在渐变方面，调试工具正遵循着一般的设计趋势，向标准化开放式系统迈进。而剧变则可能表现在操作层面，因为开发人员...

嵌入式系统 JTAG 处理器 2007-10-10

集成闪存器件编程，降低生产成本

在上个世纪80年代末，存储器发展为闪存器件。intel和东芝公司率先开发了闪存工艺技术，生产了这类新产品。在闪存器件之前，设计人员采用电可编程只读存储器(epr...

eeprom jtag fpga pfl 2007-06-21

ARM JTAG仿真器电路经验总结

以下是我在实践中的一些积累，发现这点是因为我在尝试用对SAMSUNG S3C44B0 JTAG适用的编程板电路给SAMSUNG的另一款ARM9内核MPU S3C...

ARM9 S3C44B0 JTAG 2007-05-15

使用JTAG的一些心得

通常所说的JTAG大致分两类，一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题；一类用于Debug；一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。 &n...

JTAG 2007-04-01

一种嵌入式系统实现的JTAG调试器

摘要:分析了JTAG 标准和基于JTAG 标准的ARM- ICE 的功能和原理, 利用基于S3C4510B 芯片和μClinux 操作系统的嵌入式系统实现了JT...

JTAG 调试器 μClinux 嵌入式系统 ARM7TDMI 2007-01-31

边界扫描与电路板测试技术

摘要：边界扫描技术为板级电路的测试提供了新的方法，它已广泛应用于产品生命期的全过程中。本文论述了边界扫描技术的基本原理，边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP...

边界扫描测试；JTAG；电路板测试；可测试性设计 2006-12-22

边界扫描与电路板测试技术

摘要：本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应...

边界扫描测试；JTAG；电路板测试；可测试性设计 2004-06-11

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