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NI扩展PXI平台的功能 降低半导体分析和测试成本

2011-09-09

安捷伦源∕测量单元设备占用空间和缩短测试时间

2009-09-25

NI推出首款基于PXI的源测量单元和高密度的PXI开关模块

2008-03-18
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