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NI扩展PXI平台的功能 降低半导体分析和测试成本
2011年8月——美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)扩展其PXI平台的功能,通过新发布的每个...
NI
PXI平台
PPMU
SMU
2011-09-09
安捷伦源∕测量单元设备占用空间和缩短测试时间
安捷伦科技(NYSE:A)日前宣布推出三通道的源∕测量单元(SMU),这种仪器可以在各种器件参数测试,如二极管、LED、CMOS集成电路和其它半导体...
SMU
测试时间
Agilent
2009-09-25
NI推出首款基于PXI的源测量单元和高密度的PXI开关模块
美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元(source measure unit,...
NI
PXI
SMU
开关模块
2008-03-18
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