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中芯国际背照式成像传感技术取得突破
中芯国际宣布在背照式CMOS成像传感技术研发领域取得突破性进展,首款背照式CMOS成像传感测试芯片一次流片即获得成功,在低照度下同样获得高质量的清晰图像。这...
中芯国际
传感芯片
CMOS
2012-12-24
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