Agilent BIST Assist卡助IDT升级SoC测试系统

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Agilent BIST Assist卡助IDT升级SoC测试系统

作者：eaw 时间：2005-12-04 19:11 来源：本站原创

安捷伦(Agilent)公司宣布，IDT已经购买8块Agilent的BIST Assist量产测试卡，升级其93000系列SoC测试系统。该测试卡能提供可调节的、精确的抖动注入、DC接入能力和全速条件下的电平控制功能。使用户可在无需降低质量标准的情况下实现生产测试。通过本次升级，IDT能够在环回/BIST模式下，测试速率高达6.4 Gbps的高速链路芯片。www.agilent.com

|Agilent|

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