美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）发布，2007年度4月举办全国8城市技术巡回研讨会，首场于4月3日上海开锣，为期18天，巡回苏州、深圳、成都、西安、沈阳、天津，惠及华北、东北、华东、华南、西南和西北的技术研发者，并将于4月20日北京为本次巡回落下帷幕。 吉时利公司同时宣布，报名参会即时启动。
身为新兴测量需求解决方案领导者，吉时利旨在通过本次巡展、向中国电子技术研发人员和科研院所提供极具价值的技术资源，提供吉时利产品技术信息交流与分享的平台，共同探讨面对当今设计测试系统中更新挑战之机，吉时利最新的通用测量技术如何帮助客户提高测试效率并降低成本。
吉时利的技术专家将与出席本次巡展的客户、合作伙伴和技术爱好者深入交流以下三个主要领域的技术与解决方案，内容涉猎广泛。
数字源表(或称为源-测量单元SMU)的最新先进技术
针对在电子元器件测试中的普遍挑战，吉时利提出解决方案－数字源表(或称为源-测量单元SMU)的最新先进技术, 其涉及应用领域涵盖电子, 通讯, 半导体, 国防和科学研究等各个方面。吉时利专家将现场介绍数字源表的技术构成并讨论构成元器件自动检测系统(或ATE系统)时所需的整合功能. 本讲技术和应用实现快速和高精度测试的电子元器件包括： 电阻类元件，二极管类器件, 光电类器件，电路保护装置，三极管类，低阻类元器件。此外， 观众还可利用本讲讨论的技术实现半导体元器件I－V特性分析测试、电池或大容量电容器充放电测试、三端稳压器检测及集成电路静态电流IDDQ测试等。