科利登系统有限公司推出Sapphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。
Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计（DFT）方法，助其显著降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。
这一新设备是与领先的微处理器生产厂商AMD公司合作开发的。目前，AMD的工程师正采用Sapphire平台和D-6432DFT加速其最先进产品的测试和上市周期。在全球数以百计的Sapphire平台装机量中，已有200多个D－6432DFT设
备安装在了屡获殊荣的Sapphire平台中，进行生产测试。
AMD公司自动测试设备（ATE）技术经理兼高级技术工程师Pete Hodakievic表示：“市场对高速总线接口测试和快速数据传输率提出了越来越高的要求，迫切需要一种比简易承载板环路测试技术更为强劲的测试方法。同时，我们又因为需要控制测试成本，而无法采用传统的测试设备和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我们用单次插入即可完成对最先进的微处理器芯片进行高速环路测试、DC参数测试，以及扫描和功能测试。相比全功能测试，D-6432DFT不仅有更好的测试覆盖，还可以显著降低测试成本。”
为了实现更高的数据速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越来越多的应用。然而，高速总线对传统“功能”测试方法的成本、复杂性和周期都提出了挑战。这些不确定因素在低速测试时能运作无误，但速度高于6 Gbps以上时，则有可能产生风险。目前的“近端”环路（即利用设备来输出测试数据，再回收数据至设备以进行识别）技术简单、性价比高，但难以有效地处理抖动、信号变异和协议性能，从而导致测试不完全或测试死角。集成电路制造商需要采用可测性设计方法，才能对那些影响设备和系统性能的关键变量进行灵活、全面的测试。
远端环路：卓越的抖动测量和控制，提供更高的价值
Sapphire D-6432DFT有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括：
每一通道通过集成电路实现同时的、并行的抖动注入和抖动测量，并不需要附加设备
电压和时间域中的全封闭眼图测试
除了极低成本的差分测试，还集成了用于扫描/功能性测试的400/800 Mbps数据子系统
增加了解决信号完整性问题的灵敏度覆盖检测
接收器和发送器通道可用来为内核逻辑和协议堆栈提供测试向量
用于全面DC参数测试的器件管脚存取
科利登副总裁兼自动测试设备总经理Chetan Desai表示：“与AMD这样的行业领先企业合作，使我们能够提供满足市场需求的方案，帮助客户充满信心地进行技术创新并应对上市周期和成本的双重挑战。我们很高兴推出Sapphire D-6432DFT，这是业界唯一用于高速器件生产测试的可行方案。它不仅能满足今天的市场需求，还可灵活适应未来几代的产品发展。”
Sapphire D－6432DFT设备现已投放市场。在7月17日至18日举办的Semicon West 展会期间, 科利登技术中心展出了Sapphire D-6432DFT设备，还现场展示了科利登完整的测试解决方案，包括曾经获奖的Sapphire平台和Diamond 平台。