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OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案

作者:eaw  时间:2007-11-30 17:01  来源:

  惠瑞捷宣布,日本冲电气工业株式会社已选用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中,其中包括:机顶盒,手机,掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方面的优势向其它制造商提供封装与测试服务, Port Scale射频测试方案将为OKI的测试服务业务进一步提供更多价值。惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持最终获得OKI的青睐,在众多候选方案中脱颖而出。

 

     OKI是第一批采用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案的公司之一,惠瑞捷的Port Scale射频测试解决方案的推出符合市场迅速增长的需求。目前十大射频半导体供应商中有八家正以Port Scale射频方案开发并超过25种各类产品,准备在未来数月内投入量产。这些芯片包括含当今最具有挑战性的3G4G技术,如UWBWiMAX技术,蓝牙,GPS导航以及ZigBee等。

 

    “凭借Port Scale射频测试解决方案,惠瑞捷已经率先带来了业内第一套整合探头的多端口测试方案,以此为高集成度射频设备提供高性价比的测试。从而在竞争中取得领先地位。惠瑞捷半导体科技公司业务与服务支持副总裁Pascal Ronde说:我们很高兴OKI选用了已被许多其它公司采用并一致认可的Port Scale 射频测试解决方案,在这些公司的共同推动之下,Port Scale将能迅速成为测试包括最新的3G4G技术在内的全范围复杂射频系统芯片和射频系统级封装的新标准。

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