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基于单片机的FIash存储器坏块自动检测

作者:  时间:2010-05-13 09:51  来源:EDN

  24 数码管

  采用共阳极数码管动态显示方式。为了提高驱动能力,采用三极管驱动,用P2端口的低电平对数码管进行位点亮,P0端口输入要显示的字符。本系统设计时,第l位和第2位显示第几个坏块,后3位显示无效块地址。

  3 系统软件设计

  采用μVision2集成开发环境,μVision2支持8051的所有Keil工具包,其中包括C编辑器、宏汇编器、链接器,定位器和目标文件至HEX格式的转换器。系统软件设计,即单片机代码设计通常可采用汇编语言或C语言。图5是无效块判断的主要流程。

  本设计中软件核心部分是存储器的页读取函数。函数中定义无符号整型变量赋值2 048,依据页读取的时序,先将读指令00H由函数Writ-eCommand写入Flash的命令寄存器,接着由WriteAddress函数将4个周期的地址写入Flash的地址寄存器,再由WriteCommand函数将读命令30H写入Flash指令寄存器,延时后读状态的控制字的设置,在2 048个读信号脉冲中读取缓存数据。该函数完整源程序代码如下:

  4 结论

  本设计满足系统设计要求,能够实现对Flash存储器的ID号的读取,准确读取存储器无效块的数目和相应的物理地址,通过功能按钮实现对无效块地址的上下查询。将存储器换成fLash后可以很好地检测器件的无效块的分布情况。可以成为选择性能更好的器件工具,同时还可准确获取无效块地址,为以后数据存储打好基础。

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