2011年泛华测控行业技术论坛暨客户答谢会胜利举行
作者： 时间：2011-03-01 09:49 来源：电子产品世界
新年伊始，北京中科泛华测控技术有限公司(简称;泛华测控)携2010年度优异业绩和对客户深深的感激之情，分别在北京(1月7日)和上海(1月12日)两地举办了“2011年泛华测控行业技术论坛暨客户答谢会”。会议以“多面泛华 专注测控”为主题，向客户展示了泛华在技术、行业和业绩上的突破与张力。
会上，泛华测控副总经理高向东先生向与会来宾分享了泛华2010年的成绩，并对大家的支持表示了感谢。他指出：2010年是泛华测控具有里程碑意义的一年，技术中心的成立验证了泛华十余年奋斗的成果，也是泛华测控逐步转型为以技术为支撑的企业的标志。他向来宾介绍技术中心的架构、人员配备和关注领域的同时，还就如何实现测试系统产品化，以及如何构建高效测试系统的方法与来宾做了深入探讨。
与会同期，美国国家仪器有限公司(简称：NI)的工程师，以其自身对行业的认识和经验，为现场带来了题为“图形化系统设计技术展望”的演讲。NI的工程师以合作伙伴的角度，从软件和硬件两方面，阐述了图形化系统设计技术的现状与未来的发展趋势。
作为国内杰出的测控企业，泛华测控十余年来以专业的技术，贴心的服务，自由的企业文化，不断完善和自省的态度，吸引着一批又一批的客户。新的一年，我们将继续秉持着以专业技术为企业立足之本的理念，为客户及测试测量行业的发展做出贡献。