借助罗德与施瓦茨公司基于PXI的生产测试平台R&S CompactTSVP的新选件，即使在需要进行大量数据运算的领域，快速数字功能性测试也可以实现。全新的高速数字测试模块R&S TS-PHDT支持高达40MHz的数据速率以及1.5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，因此节约了大量的测试时间。
R&S TS PHDT，这个小巧的测试模块是由罗德与施瓦茨公司和Atmel（半导体生产商的领导者之一）的射频与汽车业务部紧密合作共同开发的；是专为电子组件日趋复杂的数字电路的功能测试而设计的。另外，测试与测量仪器也必须满足当前技术对记忆深度、实时性以及等级编程的需求。而R&S TS PHDT则是市场上第一款基于PXI的满足此类应用的解决方案。
在功能测试的初始化时，首先，针对该被测件（DUT）的所有激励信号的参数以及期望值都被一次性的传送到测试模块内部1.5GB的存储介质上（3×64M采样）。然后，就可以立即执行全部的测试项目，而不需要重复地装载参数和测试数据并因此而浪费时间。集成的硬件分析模块可以实时地比较期望值与记录的实测值，给出相应的偏差和测试通过/失败的信息，从而立即得到错误或失败信道的数目，而无须把原始测试数据传送给上层系统控制器。另外，该模块还允许用户在微控制器的非易失性记忆体（NVRAM）或Flash内进行编程，用来仿真数字控制器或处理器总线。
R&S TS-PHDT 是一款非常小巧的高速数字测试模块；它仅仅占用 R&S CompactTSVP 平台的一个插槽。通过软面板以及DLL格式的驱动，就可以对它进行操作。测试平台与该模块的接口则是PCI总线。其PXI触发功能使得它可以同步到其他R&S TS-PHDT 模块以及罗德与施瓦茨公司或者其他公司的基于PXI的测量或激励模块，这样可以很容易地扩展其数字通道的个数，从而满足对模拟和数字信号的其它测试需求。
R&S TS-PHDT 高速数字测量模块现已上市。