罗德与施瓦茨公司日前推出和Atmel射频与汽车业务部紧密合作共同开发的高速数字测试模块R&S TS-PHDT，支持高达40MHz的数据速率以及1.5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，因此节约了大量的测试时间。R&S TS-PHDT是一款小巧的高速数字测试模块，它仅仅占用 R&S CompactTSVP 平台的一个插槽。通过软面板以及DLL格式的驱动，就可以对它进行操作。测试平台与该模块的接口则是PCI总线。其PXI触发功能使得它可以同步到其他R&S TS-PHDT 模块以及罗德与施瓦茨公司或者其他公司的基于PXI的测量或激励模块，这样可以很容易地扩展其数字通道的个数，从而满足对模拟和数字信号的其它测试需求。