高性能接触电阻测试系统
接触电阻是对通过闭合触点对的电流的阻抗。这种类型的测量是针对例如连接器、继电器和开关这样的器件进行的。该电阻通常非常小，范围从微欧到几个毫欧，因此需要采用4线测量法。可编程扫描仪通过将一组测试仪器切换至多个触点，大大缩短了测量时间。例如测试多插针连接器或自动测试环境舱中的多个触点时。
图 1，测量20个触点的接触电阻
如图1所示，为防止测试线、通路和开关的接触电阻被叠加到测量值，欧姆表的全部4个端子都通过开关进行切换。注意，电源 HI和LO端子被连接到一组双刀开关，而测量HI和LO端子则被连接到另一组双刀开关。若要测量触点1的电阻，需要闭合通道1和21，然后利用欧姆表测量电阻；若要测量触点2，需要开路通道1和21，闭合通道2和22，然后再次测量电阻。
Keithley 2750型多用表/开关系统能够测量低于1 mΩ的电阻，并具有偏移补偿和干电路（Dry Circuit）测试能力，所以可用来测量接触电阻。
小功率应用中的触点通常是在干电路条件下进行测试的，在这种情况下，电流和电压均被限制到不会引起点接触结的物理和电气条件发生变化。通常而言，干电路的开路电压非常低，一般为20 mV或更低，短路电流被限制为100 mA或更低。
图 2，利用共用端子测量32个触点
在有些情况下，可能需要以独特的串联方式将开关的数量减少一半，如图 2所示。在本例中，所有的接片都被串联在一起，每个底座均被连接到一个双刀开关。在这种情况下，带有7701型低电压32通道差分多路选通模块的2750型多用表/开关系统可测试32个触点。利用2750型主机中的5块7701型模块，可测试最多160个触点。
图3所示为一个高性能接触电阻系统，能够以相当小的电流（<100 μA）测量非常低的电阻（μΩ）。在该系统中，2400型源表输出测试电流，2182A型纳伏表测量每个触点上的压降。2182A和2400均通过7011型40通道多路选通卡切换至每个触点。2400型提供了一个可编程的电压跟随限值，所以系统能够确保干电路测试条件。
图3，高性能接触电阻测试系统
一块7011型开关卡和一个7001型开关主机可切换20个触点。7011型开关卡被配置为两组20通道。利用主机的4到开关模式，两组继电器可被同时打开或闭合。