Cadence模型化的Litho Physical和Litho Electrical Analyzer解决方案提供了快速、精确硅认证的全芯片电气DFM 验证流程
【加州圣荷塞，2009年10月19日】全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司（NASDAQ: CDNS）今天宣布，中芯国际集成电路制造有限公司（中芯国际”,纽约证交所股份代号：SMI；香港联合交易所股票代码: 0981.HK）采用了Cadence® Litho Physical Analyzer与Cadence Litho Electrical Analyzer，从而能够更准确地预测压力和光刻差异对65和45纳米半导体设计性能的影响。 Cadence Litho Electrical Analyzer—半导体行业第一个用于各大领先半导体公司从90到40纳米生产中的DFM电气解决方案—与Cadence Litho Physical Analyzer结合，形成了一个能精确预测最终硅片结果的流程。
此前单个单元和库的电气行为可在一个单独的环境中进行预先标示，该单独环境在给定的、基于目标制程技术的设计中使用时可保持一致性。在65及更小纳米，单元的每次放置都产生了自己的一套物理和电气差异，这些差异与邻近的单元或环境有关。 这种“与环境有关的差异”已成为关键的问题，可导致芯片设计失败。 Cadence Encounter® Digital Implementation System (EDI)无缝地整合了Litho Physical Analyzer与Litho Electrical Analyzer，可在全芯片实现之前进行严苛的、与环境有关的单元物理与电气签收。 该流程利用了模型化的物理与电气可制造性（DFM）技术，可提高标准单元库、知识产权（IP）核、及全芯片的品质和可靠性，从而提高完整芯片的制造成品率。 “在65和45纳米上必须解决物理和电气差异，这需要一种整体性的方法，它要始于单元级别，并考虑到设计的整个环境，” 中芯国际设计服务中心副总裁刘明刚表示，“通过Cadence的DFM流程，我们能够分析单元和IP差异，并能对它们在真实硅片中的性能进行精确建模。 通过标示和减少差异，我们的客户将能减少防护带并制出更高品质的硅片。 该解决方案还能实现近线性可扩展性，而这对于全芯片电气DFM验证流程来说是必需的。
Cadence已开发出业界最完整的设计侧DFM预防、分析和签收方法学之一，并包括Encounter Digital Implementation System设计侧优化。它也被用于32和28纳米库的差异建模。“快速、精确、与环境有关的单元光刻与压力效应差异建模，对实现65纳米及以下节点实现有价值生产设计非常关键，”Cadence实现集团研发副总裁徐季平表示。“众多一次硅片成功已证明了高容量半导体设计DFM分析工具的价值。”