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日置将近期推出全新LCR测试仪

作者:  时间:2012-03-08 09:18  来源:电子设计应用

  

 

  IM3523                                                            IM3533/33-01

  针对今后日益庞大的电子零部件产业领域的检测需求,日置将于近期推出全新LCR测试仪,总共3种以对应不同环境需要。分别是IM3523,IM3533,IM3533-01。

  3种型号的特点:

  1. IM3523:缩短检查时间,提高量产效率

  面向电子零部件产线,比起以往机种的测量时间为5ms(1ms为1/1000秒),最新IM3523最快可达2ms,缩短了一半以上,能大幅节约检查时间,提供工作效率。

  另外,电容器的品质试验等常规C-D测量及ESR测量,1台仪器,皆可搞定。在采购费和维护费等方面有效降低了成本。

  再有,断线检查功能能够及时发现测量时的断线或接触不良等情况,降低了漏查的可能,是检查结果更为可靠。此外,还有新增自动设定功能,在变更测量对象时,减少了测量前的准备工作。

  2. IM3533:强化变压器和线圈检查

  IM3533在IM3523优点的基础上新增,对应变压器和线圈的产品的检查。因为变压器具备电压大幅变化的功能,被广泛用于充当电器产品电源的零件。这时变压器评估所必须的线圈比和相互电感系数等皆可测量。

  3. IM3533-01:用于研发机构等特殊领域

  IM3533-01除了具备上述两款的所有功能之外,特别针对研发机构等有特殊需求的用户而开发。相对以上两者±0.08%rdg..的测量精度,IM3533-01的精度可达±0.05%rdg..。能满足研发所需要的高精度。另外,因为具备可以指定频率的范围,观测不同频率的测量变化的扫频功能,在电子零部件研发的高科技单位中威力强劲。

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