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半导体C-V测量基础

C-V测量为人们提供了有关器件和材料特征的大量信息通用测试电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外...

C-V测量 MOSCAP MOSFET 吉时利 2009-07-29

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