>
首页
业界动态
市场趋势
新品速递
技术文章
解决方案
首页
>位失效图
SOC芯片设计与测试
摘要:SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进...
面向测试设计
DRAM测试
位失效图
SoC
2007-04-10
1
在线研讨会
焦点