光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为:光纤以
而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验,在此情况下,绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与
大多光纤厂家都提供Φ
Φ
两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。
用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。
分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下,对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计,最后将全部数据汇总,得到图2。
从整体数据汇总图可看出,Φ
10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大,处于一个数据等级内。Φ
在测试过程中,Φ
Φ
截止波长与宏弯损耗存在相关性
为更好地摸索宏弯损耗与截止波长的关系,随机抽取760个样品进行实验,实验数据如图3、图4所示。
由图3可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散,实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。
由图4可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm~1290nm,截止波长越小,宏弯损耗越大,且分布散乱无规律。
通过以上分析,可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响,当截止波长分布在1210nm~1290nm范围内时,1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中,数据稳定,这为光纤厂商优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。