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SoC设计中的扫描测试技术

摘要：针对SoC的基于IP设计、多时钟域、多用异步逻辑、时钟门控、系统集成等特点,给出了一种层次化的扫描测试结构,并将该方法成功应用于一款具有数百...

SoC 可测试性设计扫描设计层次化设计方法 2007-03-25

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